Utilidad de la difracción de rayos x en las nanociencias

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Publicado: abr. 12, 2015
DOI: https://doi.org/10.22201/ceiich.24485691e.2010.2.52223
Palavras-chave:
difracción, rayos x, nanociencia

Conteúdo do artigo principal

Martha Eloísa Aparicio Ceja
Centro de Nanociencias y Nanotecnología. Universidad Nacional Autónoma de México. Apdo. Postal 14, CP 22800. Ensenada, Baja California, México. Teléfono: +52 (646) 174 46 02. Fax: +52 (646) 174 46 03.
Gregorio Guadalupe Carbajal Arizaga
Centro de Nanociencias y Nanotecnología. Universidad Nacional Autónoma de México. Apdo. Postal 14, CP 22800. Ensenada, Baja California, México. Teléfono: +52 (646) 174 46 02. Fax: +52 (646) 174 46 03.

Resumo

Resumen: La difracci.n de rayos x (DRX) es una herramienta que se ha utilizado durante el último siglo para el estudio de minerales, compuestos y materiales. Las nanociencias descubrieron que en dimensiones nanométricas, materiales antes conocidos muestran nuevos fenómenos y propiedades.

Esto llevó a que se aplicaran técnicas de caracterización en estado sólido tradicionales, como la DRX a sistemas nanométricos. En este trabajo recopilamos casos publicados principalmente en América Latina en los que la DRX ayuda resolver problemas en la escala nano.

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Como Citar
Aparicio Ceja, M. E., & Carbajal Arizaga, G. G. (2015). Utilidad de la difracción de rayos x en las nanociencias. Mundo Nano. Revista Interdisciplinaria En Nanociencias Y Nanotecnología, 3(2). https://doi.org/10.22201/ceiich.24485691e.2010.2.52223
Edição
v. 3 n. 2 (2010)
Seção
Artigos de investigação

Licencia Creative Commons
Mundo Nano. Revista Interdisciplinaria en Nanociencias y Nanotecnología, editada por la Universidad Nacional Autónoma de México, se distribuye bajo una Licencia Creative Commons Atribución-NoComercial 4.0 Internacional.
Basada en una obra en http://www.mundonano.unam.mx.