Tomás Quirino, Carlos, y Fernando Sancén Contreras. «Ubicación De Riesgos En El Trabajo a Nanoescala Una visión Desde La ética». Mundo Nano. Revista Interdisciplinaria en Nanociencias y Nanotecnología 4, no. 1 (abril 12, 2015). Accedido febrero 16, 2025. https://mundonano.unam.mx/ojs/index.php/nano/article/view/50989.