Tomás Quirino, Carlos, y Fernando Sancén Contreras. «Ubicación De Riesgos En El Trabajo a Nanoescala Una visión Desde La ética». Mundo Nano. Revista Interdisciplinaria En Nanociencias Y Nanotecnología, vol. 4, n.º 1, abril de 2015, doi:10.22201/ceiich.24485691e.2011.1.50989.