TOMÁS QUIRINO, Carlos; SANCÉN CONTRERAS, Fernando. Ubicación de riesgos en el trabajo a nanoescala Una visión desde la ética. Mundo Nano. Revista Interdisciplinaria en Nanociencias y Nanotecnología, [S. l.], v. 4, n. 1, 2015. DOI: 10.22201/ceiich.24485691e.2011.1.50989. Disponível em: https://mundonano.unam.mx/ojs/index.php/nano/article/view/50989. Acesso em: 1 abr. 2025.